Das Agilent 5100 Synchronized Dual View (SVDV) ICP-OES ist das erste auf seinem Gebiet für die ICP-OES-Analyse. Mit der Dichroic Spectral Combiner (DSC)-Technologie kann es axiale und radiale Plasmabilder in einer einzigen Messung erfassen.Wenn das 5100 ICP-OES mit einer vertikalen Taschenlampe und einem gasverbrauchsfreien Hochgeschwindigkeits-Vista-Chip-II-CCD-Detektor kombiniert wird, ist dies möglich nähert sich selbst Ihren anspruchsvollsten Proben mit 50 % weniger Argan und verarbeitet 55 % schneller.